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DFN-Buchse

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DFN8 Programmieradapter 2×3 0.5mm QFN8 Sockeladapter
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DFN8 QFN8 WSON8 Chip Sonde Kabel Lesen Schreiben Burn-in Pin 1.27 6*8 5*6DFN8 QFN8 WSON8 Chip Sonde Kabel Lesen Schreiben Burn-in Pin 1.27 6*8 5*6
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DFN3X3-8L(0.65) Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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DFN5X6-8L(1.27) Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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DFN8X8-8L(2.0) zum DIP-Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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20QN65TS15050 24QN50S14040 Einbrennen im Sockel-Befestigungs-IC-Chip-Adapter20QN65TS15050 24QN50S14040 Einbrennen im Sockel-Befestigungs-IC-Chip-Adapter
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14QN50TS23535 16QN50S23030 Einbrennen in der Sockel-IC-Chip-Testvorrichtung14QN50TS23535 16QN50S23030 Einbrennen in der Sockel-IC-Chip-Testvorrichtung
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08LT80S14040 Testvorrichtung 08QN12T16050 Programmierer Burn In Socket08LT80S14040 Testvorrichtung 08QN12T16050 Programmierer Burn In Socket
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DFN1X1-4L(0.65) Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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DFN1X1-4L(0.65) zum DIP-Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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10QN50S1303 Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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DFN1X1-4L(0.65) Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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DFN5X6-8L(EP2) auf DIP8 Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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DFN6X8-8L(1.27) Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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DFN8 auf DIP8 Testsockel WSON8 MLF8 DFN6X8-8L (1.27)
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DFN5X6-8L(EP2) zu DIP8 Prüfsockel, vergoldete Prüfvorrichtung
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DFN3X3-10L(0.5) Prüfbuchse, vergoldete Prüfvorrichtung
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DFN3.3X3.3-8L(0.65) Burn-In-Sockel, vergoldete Testvorrichtung
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SOT23-6-0.95mm SOT23 programmierung adapter SOT23 buchse adapter
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SOT23 Programmieradapter SOT23-5-0.95 mm SOT23-SockeladapterSOT23 Programmieradapter SOT23-5-0.95 mm SOT23-Sockeladapter
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SOT23 Programmieradapter 0.9 mm SOT23 Sockeladapter
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DFN8 Programmieradapter 6×8 1.27mm QFN8 Sockeladapter
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DFN8 Programmieradapter 5×6 1.27mm QFN8 Sockeladapter
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WSON10 MLF10 DFN10 Zu DIP10 Testsockel 0.5mm 3*3mm
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